快三开奖结果湖北

  • <tr id='CcNgwn'><strong id='CcNgwn'></strong><small id='CcNgwn'></small><button id='CcNgwn'></button><li id='CcNgwn'><noscript id='CcNgwn'><big id='CcNgwn'></big><dt id='CcNgwn'></dt></noscript></li></tr><ol id='CcNgwn'><option id='CcNgwn'><table id='CcNgwn'><blockquote id='CcNgwn'><tbody id='CcNgwn'></tbody></blockquote></table></option></ol><u id='CcNgwn'></u><kbd id='CcNgwn'><kbd id='CcNgwn'></kbd></kbd>

    <code id='CcNgwn'><strong id='CcNgwn'></strong></code>

    <fieldset id='CcNgwn'></fieldset>
          <span id='CcNgwn'></span>

              <ins id='CcNgwn'></ins>
              <acronym id='CcNgwn'><em id='CcNgwn'></em><td id='CcNgwn'><div id='CcNgwn'></div></td></acronym><address id='CcNgwn'><big id='CcNgwn'><big id='CcNgwn'></big><legend id='CcNgwn'></legend></big></address>

              <i id='CcNgwn'><div id='CcNgwn'><ins id='CcNgwn'></ins></div></i>
              <i id='CcNgwn'></i>
            1. <dl id='CcNgwn'></dl>
              1. <blockquote id='CcNgwn'><q id='CcNgwn'><noscript id='CcNgwn'></noscript><dt id='CcNgwn'></dt></q></blockquote><noframes id='CcNgwn'><i id='CcNgwn'></i>

                清華大學-快三中國聯合舉辦第六期微流控芯片質譜聯用細胞分析講習會

                2019-01-15

                  2019年1月8日,清華大學-快三中國在快三西安分析中心成功舉辦了第六期微流控芯片質譜聯用細胞分析講習會。首期微流控芯片質譜聯用細胞分析講習會於2017年9月在快三中國質譜中心成功舉辦,至今已經走過北京、廣州、上海及成都等地。第六期講習會來到古都西安,介紹了由清華大學林金明課題組研究開發的多通道微流控芯片-質譜聯用儀,得到了來自高校、研究所及企業三十多位專家學者的關註及報名參會。


                第六期微流控芯片質譜聯用細胞分析講習會合影

                  快三企業管理(中國)有限公司事業戰略室本部長端裕樹博士首先代表快三公司對參加講習會的全體代表和專家表示熱烈歡迎。隨後,清華大學林金明教授介紹了微流控芯片質譜聯用細胞分析的最新研究進展,西安交通大學生命科學與技術學院趙永席教授做了題為“活細胞核酸組裝與擴增分析”的學術報告,端裕樹博士對微流控芯片質譜儀器的結構和性能做了詳細的介紹,清華大學化學系許檸研究助理介紹了儀器的實驗方法,並現場演示了儀器對細胞的缺氧實驗,為參會代表展示了現場試驗結果,回答代表們提出了問題和儀器使用過程中的註意事項。


                林金明做微流控芯片質譜聯用儀器研發與應用的研究進展介紹


                趙永席教授做題為“細胞核酸組裝與擴增技術”的學術報告


                端裕樹博士介紹儀器研發過程、結構和性能


                許檸助理介紹儀器的使用方法並現場演示微流控芯片上的細胞分析方法

                  講習會後,在工作人員引導下,代表們參觀了快三西安分析中心實驗室。對於本期講習會,全體與會者給予了一致好評。最終,第六期微流控芯片質譜聯用細胞分析講習會圓滿結束。

                按年份查看

                Top of This Page